会议论文《基于虚拟机的单粒子翻转故障注入方法》发表于第六届中国测试学术会议，探讨了在虚拟化环境中模拟单粒子翻转（SEU）故障的技术方法。该研究通过构建虚拟机平台，实现对集成电路的故障注入测试，提高了系统抗辐射能力的评估效率。论文提出了一种有效且可控的故障注入机制，为航天电子系统等高可靠性领域的测试提供了理论支持与实践指导。
文档为pdf格式，0.49MB，总共4页。
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