会议论文《基于共面波导传输线测量高损耗电介质薄膜参数的方法研究》探讨了利用共面波导传输线技术对高损耗电介质薄膜的介电常数和损耗角正切等参数进行精确测量的方法。该研究针对传统测量手段在高损耗材料中的局限性,提出了一种改进的测量方案,提高了测量精度与适用性,为高频电子器件的设计与优化提供了重要参考。
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