会议论文《RF MEMS直接接触式开关寿命测试系统的设计》探讨了针对射频微机电系统（RF MEMS）开关的寿命测试方法。该文提出了一种专门用于评估直接接触式开关寿命的测试系统，旨在提高测试精度与可靠性。通过优化设计，系统能够模拟实际工作环境，有效延长开关使用寿命并提升性能稳定性。该研究对RF MEMS技术的实际应用具有重要参考价值。
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