|
论文《Power GaN HEMT on Si Substrate with Al-Content Step-Graded AlGaN Transition Layers》介绍了在硅基上制备功率GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的研究。通过采用Al含量梯度变化的AlGaN过渡层,有效降低了外延层的缺陷密度,提高了器件性能。该研究为高性能、低成本的GaN功率器件提供了新的解决方案,具有重要的应用价值。 文档为pdf格式,1.11MB,总共4页。
- 文件大小:
- 1.11 MB
- 下载次数:
- 60
- Power GaN HEMT on Si Substrate with Al-Content Step-Graded AlGaN Transition Layers - 第十七届全国化 ...
-
高速下载
|