论文《微聚焦X射线透射检查技术的应用与发展》介绍了该技术在SMT领域的应用现状及发展趋势。文章分析了微聚焦X射线在检测电子元器件内部缺陷中的优势，如高分辨率和非破坏性检测能力。同时，探讨了该技术在提高产品质量和可靠性方面的重要作用，并展望了未来在自动化检测中的发展潜力。
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