论文《基于边界扫描的BIST技术》探讨了利用边界扫描技术实现内置自测试（BIST）的方法。文章分析了边界扫描在集成电路测试中的应用优势，提出了结合BIST与边界扫描的测试架构，提高了测试效率和故障覆盖率。该研究为复杂电子系统的快速诊断提供了有效解决方案，具有重要的工程应用价值。
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