TOFD检测中采用二次波评定近扫查面缺陷尺寸的方法

TOFD检测中采用二次波评定近扫查面缺陷尺寸的方法
在TOFD检测过程中, 因直通波宽度而产生的近扫查面盲区对检测影响很大。为精确定量位于近扫查面盲区的缺陷, 制作了人工缺陷试块, 对其采用常规TOFD以及TOFD二次波分别进行扫查。对比两种扫查方式所得TOFD图像可见, 常规TOFD技术对近扫查面缺陷极易漏检且无法定量, 而利用TOFD二次波扫查方式得到的图像能够显著分辨出缺陷并能精确定量, 因此可弥补常规TOFD检测中对近扫查面缺陷检出能力的不足。

标题：TOFD检测中采用二次波评定近扫查面缺陷尺寸的方法

作者：孙忠波,齐向前,张平,

关键词：超声波衍射时差技术,近扫查面盲区,直通波,二次波扫查,

发表日期：2009年9月

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