文档名：浅谈ODN链路衰耗超标的主要成因
通过对ODN链路衰耗的现场测试,发现下行衰耗容易超标,对此超标的弱光现象进行了分析,发现造成链路弱光现象的主要成因在于链路上不规范的纤芯盘绕,这种盘绕产生的宏弯衰耗在长波长时表现得更为明显,从而造成长波长的链路下行衰耗超标,而且随着10GPON的应用,ODN下行将使用到1577nm波长窗口,因弯曲半径过小导致的宏弯损耗过大所带来的影响将会更大.
作者：丁为民杨珩代岭
作者单位：中国移动通信集团设计院有限公司安徽分公司合肥230041
母体文献：中国通信学会2021年通信线路学术年会论文集
会议名称：中国通信学会2021年通信线路学术年会
会议时间：2021年9月1日
会议地点：江苏吴江
主办单位：中国通信学会
语种：chi
分类号：TN9TP3
关键词：光网络单元 链路衰耗 弱光现象 纤芯盘绕
在线出版日期：2022年8月26日
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