文档名：掺铂和电子辐照对快恢复二极管性能的影响
寿命控制技术是现在广泛使用的方法,该方法旨在减少快恢复二极管(FRD)基区载流子寿命从而实现更小的反向恢复时间,同时不可避免地引起其他性能的变化.通过高能电子辐照和扩铂对1200VFRD进行了寿命控制,并对铂扩散和电子辐照样品在正向压降温度特性、静态和反向恢复特性等方面进行了对比分析,发现铂扩散样品随扩铂温度的增加,其击穿电压变大;高能电子辐照器件呈现电压正温度系数,其正向压降和反向恢复时间(VF-tn)折中曲线更靠近原点.实验结果表明,高能电子辐照样品具有更好的温度系数、更好的VF-tn折中特性,然而反向电流在125℃却高达约210μA.
作者：赵豹贾云鹏吴郁胡冬青周璇李哲谭健
作者单位：北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京100124
母体文献：北京电力电子学会2017电力电子论坛论文集
会议名称：北京电力电子学会2017电力电子论坛
会议时间：2017年9月1日
会议地点：北京
主办单位：北京电力电子学会
语种：chi
分类号：
关键词：快恢复二极管 铂掺杂 电子辐照 性能表征
在线出版日期：2020年11月30日
基金项目：
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