会议论文《高性能液晶电视控制芯片的量产优化测试方案》发表于第五届中国测试学术会议。该文针对液晶电视控制芯片在量产过程中的测试难题，提出了一套优化的测试方案，旨在提高测试效率与准确性，降低生产成本。研究结合实际应用需求，分析了芯片测试的关键环节，并提出了有效的改进措施，对提升产品质量和市场竞争力具有重要意义。
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