选区电子衍射测定未知晶体Bravais点阵的新方法 - 第十二届中国体视学与图像分析学术会议.pdf

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2026-1-12 18:41 | 查看全部 阅读模式

会议论文《选区电子衍射测定未知晶体Bravais点阵的新方法》提出了一种基于选区电子衍射技术快速识别未知晶体点阵结构的创新方法。该方法通过分析衍射花样中的对称性和间距特征,结合数学算法进行点阵匹配,提高了晶体结构解析的准确性和效率。研究为材料科学领域提供了有效的工具,尤其适用于复杂或未知晶体的结构分析。

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选区电子衍射测定未知晶体Bravais点阵的新方法 - 第十二届中国体视学与图像分析学术会议
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