会议论文《深亚微米CMOS闩锁效应分析及预防》探讨了深亚微米工艺下CMOS电路中闩锁效应的机理及其对电路可靠性的影响。文章通过理论分析与实验验证，提出了一系列有效的预防措施，为提高集成电路的稳定性和可靠性提供了重要参考。
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