会议论文《微电子计量测试技术初步 - 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会》探讨了微电子领域中的计量与测试技术，旨在推动相关技术的发展与应用。文章介绍了微电子器件的测量方法、测试标准及最新研究成果，为行业提供了重要的理论依据和技术参考。该研讨会汇聚了众多专家学者，共同交流经验，促进技术创新与产业进步。
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