会议论文《微电子参量的数值校准方法研究》发表于第一届中国微电子计量与测试技术研讨会，探讨了微电子参数在实际应用中的数值校准问题。文章提出了一种有效的校准方法，旨在提高测量精度和可靠性，对推动微电子技术的发展具有重要意义。
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