会议论文《基准组合电路中SET的传播特性研究》发表于第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET08)，探讨了单粒子翻转（SET）在基准组合电路中的传播行为。该研究对提高电路抗辐射能力具有重要意义，通过分析SET在电路中的传播路径和影响范围，为设计高可靠性电子系统提供了理论支持。
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