本文介绍了基于CMOS工艺的采样开关模型与电路设计。通过分析采样开关的工作原理,提出了适用于高速采样的电路结构,优化了开关的导通与关断特性。研究结果表明,所设计的电路在低功耗和高精度方面具有良好的性能,适用于集成化模拟前端系统。该论文为CMOS采样开关的进一步发展提供了理论支持和实用参考。
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