会议论文《基于动态浮栅技术的输入端ESD保护》探讨了在集成电路设计中如何利用动态浮栅技术提高输入端静电放电（ESD）保护性能。该研究针对传统ESD保护结构的局限性，提出了一种创新的解决方案，有效提升了器件的抗静电能力。文章通过理论分析与实验验证，证明了该技术在改善电路可靠性方面的有效性，为半导体器件的ESD防护提供了新的思路。
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