会议论文《国内外集成电路可靠性实验数据及分析》发表于第一届中国微电子计量与测试技术研讨会，主要探讨了集成电路在不同环境条件下的可靠性表现。文章对比分析了国内外相关实验数据，总结了影响集成电路可靠性的关键因素，并提出了改进测试方法的建议，对提升我国微电子产品质量具有重要意义。
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