会议论文《一种确定性扫描链故障诊断向量的生成方法》发表于第五届中国测试学术会议，旨在解决扫描链故障诊断中测试向量生成效率低的问题。该文提出一种确定性方法，通过分析电路结构和故障模型，生成有效的诊断向量，提高故障定位的准确性与速度。研究对提升集成电路测试效率具有重要意义，适用于复杂数字电路的故障检测与诊断。
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