会议论文《一种容软错误的高可靠BIST结构》提出了一种改进的内置自测试（BIST）结构，以提高集成电路的可靠性。该结构能够有效检测和容许软错误，增强了系统的容错能力。文章针对第五届中国测试学术会议的需求，详细介绍了设计方法与实现方案，为高可靠性系统提供了新的思路。
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