LED检测中的问题 - 2008中国半导体照明应用技术研讨会.pdf

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2026-1-12 07:43 | 查看全部 阅读模式

会议论文《LED检测中的问题 - 2008中国半导体照明应用技术研讨会》探讨了LED在检测过程中面临的技术挑战。文章分析了LED性能测试中的关键问题,如光效、色温、寿命等指标的准确测量方法。作者提出了改进检测技术和标准化流程的建议,以提升LED产品的质量和可靠性。该论文为推动中国半导体照明行业的发展提供了重要参考。

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LED检测中的问题 - 2008中国半导体照明应用技术研讨会
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