0.13um工艺下串扰对时钟信号完整性的影响分析 - 第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET08).pdf

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2026-1-12 07:01 | 查看全部 阅读模式

会议论文《0.13um工艺下串扰对时钟信号完整性的影响分析》探讨了在0.13微米工艺下,串扰对时钟信号质量的潜在影响。文章通过仿真与实验分析,揭示了相邻信号线间的电磁干扰如何导致时钟信号失真,进而影响系统性能。研究结果为高速数字电路设计提供了理论依据和技术参考,具有重要的工程应用价值。

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0.13um工艺下串扰对时钟信号完整性的影响分析 - 第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET08)
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