会议论文《系统抗辐射加固及性能评估技术概述》由四川省电子学会2009年学术年会发表，主要探讨了电子系统在辐射环境下的可靠性与安全性问题。文章介绍了抗辐射加固技术的基本原理和应用方法，分析了不同辐射源对系统的影响，并提出了性能评估的指标与测试手段。该文为提升电子设备在高辐射环境中的稳定性提供了理论支持和技术参考。
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