会议论文《混合微电路生产过程中的样本量极少工序质量控制方法的研究》针对混合集成电路制造中样本量少的工序质量控制难题，提出了一种有效的分析方法。该研究通过引入统计分析与数据挖掘技术，提高了小样本情况下的质量监控精度。文章在第十六届全国混合集成电路学术会议上发表，为提升微电子制造工艺稳定性提供了理论支持和实践参考。
文档为pdf格式，0.38MB，总共7页。
举报
