会议论文《一种通用数字ICATE的自检功能设计》发表于2009年四川省电子学会半导体与集成技术专委会学术年会。该文提出了一种适用于数字ICATE的自检功能设计方案，旨在提高系统的可靠性和故障诊断能力。通过引入自检机制，能够实时检测电路异常，提升系统稳定性，为集成电路测试与维护提供了有效手段。
文档为pdf格式，0.52MB，总共4页。
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