会议论文《ONO反熔丝结构的电离辐照性能研究》探讨了ONO反熔丝在电离辐射下的性能表现。该研究针对半导体器件在辐射环境中的可靠性问题，通过实验分析了不同辐照条件下ONO结构的电气特性变化。结果表明，电离辐照对反熔丝的击穿电压和漏电流有显著影响，为高辐射环境下器件的设计与应用提供了重要参考。
文档为pdf格式，0.09MB，总共5页。
举报
