螺旋线慢波结构色散特性与耦合阻抗测量系统误差分析 - 2010年度真空电子材料、陶瓷-金属封接与真空开关管用陶瓷管壳技术研讨会.pdf

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2026-1-11 06:24 | 查看全部阅读模式

会议论文《螺旋线慢波结构色散特性与耦合阻抗测量系统误差分析》探讨了螺旋线慢波结构的色散特性和耦合阻抗的测量方法。文章分析了测量系统中可能存在的误差来源，提出了改进测量精度的建议。该研究对微波电子器件的设计与优化具有重要参考价值。

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