液晶热点检测技术在集成电路失效定位中的应用 - 2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会.pdf

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2026-1-11 05:07 | 查看全部阅读模式

会议论文《液晶热点检测技术在集成电路失效定位中的应用》介绍了液晶热点检测技术在集成电路失效分析中的实际应用。该技术通过液晶材料对温度变化的敏感性，能够有效定位电路中的异常热点，提高故障诊断效率。文章结合实例，探讨了该技术在可靠性评估中的重要性，为集成电路的失效分析提供了新的方法和思路。

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