会议论文《采用加速试验评估晶体管长期贮存下参数变化的研究》发表于2010年中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会。该研究通过加速试验方法，分析晶体管在长期贮存过程中的参数变化规律，为评估其可靠性和寿命提供理论依据和技术支持，对电子器件的可靠性设计与应用具有重要意义。
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