会议论文《利用分光光度计测量多层膜的透射光谱》介绍了如何通过分光光度计技术精确测定多层薄膜的透射光谱特性。该研究为光学薄膜的性能分析提供了有效手段，对材料科学和光电子技术具有重要意义。论文发表于2010年北京光谱学术年会，由北京理化分析测试技术学会组织。
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