会议论文《单光子成像光谱技术及其在计量检测中的应用》发表于2009年中国计量测试学会光辐射计量学术研讨会。该文介绍了单光子成像光谱技术的基本原理及其在高精度计量检测中的应用，探讨了其在光辐射测量、光学成像和信号检测等方面的优势，为提升计量检测的准确性和灵敏度提供了新的技术路径。
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