该会议论文介绍了利用二次离子质谱（SIMS）技术测定国际比对铀微粒中铀同位素丰度的研究。文章详细描述了实验方法、数据处理过程及结果分析，旨在提高铀同位素测量的准确性和可靠性。研究对于核安全、环境监测及核材料分析具有重要意义，展示了SIMS在同位素分析中的应用潜力。
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