SPC用于金丝键合质量控制的研究 - 2010年中国电子制造技术论坛.pdf

9 0
2026-1-11 00:40 | 查看全部 阅读模式

会议论文《SPC用于金丝键合质量控制的研究》发表于2010年中国电子制造技术论坛,探讨了统计过程控制(SPC)在金丝键合工艺中的应用。文章分析了键合过程中影响质量的关键因素,并通过数据采集与分析,建立有效的质量监控模型。研究结果表明,SPC技术能显著提升金丝键合的一致性与可靠性,为电子制造领域的质量控制提供了科学依据和技术支持。

文档为pdf格式,0.11MB,总共8页。

SPC用于金丝键合质量控制的研究 - 2010年中国电子制造技术论坛
文件大小:
112.64 KB
高速下载
2026 资料下载 联系邮件:1991591830#qq.com 浙ICP备2024084428号-1