会议论文《子孔径拼接测试中的系统误差放大效应及其消除方法》探讨了在子孔径拼接测试中系统误差被放大的现象及其有效消除方法。该文针对光学测试中的关键问题，提出了一种改进的误差补偿策略，提高了拼接精度与可靠性。文章通过理论分析与实验验证，为高精度光学系统测试提供了重要参考，具有较高的学术价值和应用前景。
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