会议论文《关于光学元件面形评价参数峰谷值(PV)的分析》探讨了光学元件表面质量评价中关键参数——峰谷值（PV）的重要性与应用。文章分析了PV在不同测量条件下的变化特性，提出了提高测量精度的方法，为光学元件的制造与检测提供了理论依据和技术支持。
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