会议论文《三维片上网络测试的时间优化方法》发表于第六届中国测试学术会议，针对三维片上网络测试中时间效率不足的问题，提出了一种优化方法。该方法通过改进测试路径规划和减少冗余测试步骤，有效降低了测试时间。研究为提升三维芯片的测试效率提供了理论支持和技术参考，对集成电路测试领域具有重要意义。
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