会议论文《一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案》发表于第六届中国测试学术会议，提出了一种改进的内置自测试（BIST）方法。该方案通过自选择状态技术优化折叠计数器的测试过程，提高了测试覆盖率和故障检测能力，同时降低了硬件开销。研究为集成电路测试提供了有效的新思路，具有重要的理论和应用价值。
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