功率半导体器件直流参数测试设备的研发 - 2013‘全国半导体器件技术、产业发展研讨会暨第六届中国微纳电子技术交流与学术研讨会.pdf

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2026-1-10 11:54 | 查看全部阅读模式

会议论文《功率半导体器件直流参数测试设备的研发》介绍了针对功率半导体器件设计的直流参数测试设备。该研究旨在提高测试精度与效率，满足现代电力电子器件的发展需求。论文详细阐述了测试系统的硬件架构、软件控制流程及关键性能指标，为相关领域的技术进步提供了理论支持和实践参考。

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