会议论文《LDMOS FET的可靠性电-热-应力分析》探讨了LDMOS FET在电、热及机械应力作用下的可靠性问题。文章通过实验与仿真结合的方法，分析了器件在不同工作条件下的性能退化机制，为提高LDMOS FET的稳定性和寿命提供了理论依据和技术支持。
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