会议论文《考虑电路拓扑关联的老化关键门高效选择方法》提出了一种基于电路拓扑结构分析的老化关键门识别技术。该方法通过分析门电路之间的连接关系,提高关键门选择的效率与准确性,为集成电路老化评估提供了有效支持。
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