浅谈利用红外成像检测技术消除高压开关柜涡流损耗发热 - 2014年中国电机工程学会年会.pdf

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2026-1-10 06:43 | 查看全部 阅读模式

会议论文《浅谈利用红外成像检测技术消除高压开关柜涡流损耗发热》探讨了红外成像技术在高压开关柜故障检测中的应用。文章指出,通过红外成像可以有效发现因涡流损耗导致的异常发热现象,为及时维护和故障排除提供依据。该研究对提高电力设备运行安全性具有重要意义,是2014年中国电机工程学会年会的重要成果之一。

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浅谈利用红外成像检测技术消除高压开关柜涡流损耗发热 - 2014年中国电机工程学会年会
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