会议论文《屏幕缺陷测量方法》发表于2014年中国平板显示学术会议,主要探讨了现代显示屏中常见缺陷的检测与量化方法。文章介绍了多种基于图像处理和光学测量的技术,旨在提高屏幕质量评估的准确性和效率。该研究对平板显示行业的质量控制和产品优化具有重要参考价值。
文档为pdf格式,1.54MB,总共3页。
举报