屏幕缺陷测量方法 - 2014中国平板显示学术会议.pdf

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2026-1-10 05:03 | 查看全部 阅读模式

会议论文《屏幕缺陷测量方法》发表于2014年中国平板显示学术会议,主要探讨了现代显示屏中常见缺陷的检测与量化方法。文章介绍了多种基于图像处理和光学测量的技术,旨在提高屏幕质量评估的准确性和效率。该研究对平板显示行业的质量控制和产品优化具有重要参考价值。

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屏幕缺陷测量方法 - 2014中国平板显示学术会议
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