Fatigue Life of Indium Tin Oxide Films Deposited on Poly(ethylene terephthalate) Substrate in Cyclic Bending Tests - 2014年海峡两岸破坏科学与材料试验学术会议暨第十二届破坏科学研讨会、第十届全国MTS材料试验学术会议.pdf

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2026-1-10 01:20 | 查看全部 阅读模式

该会议论文研究了在循环弯曲测试中,沉积在聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)基板上的氧化铟锡(ITO)薄膜的疲劳寿命。通过实验分析了ITO薄膜在反复弯曲下的性能退化情况,探讨了材料结构与机械应力之间的关系,为柔性电子器件的可靠性提供了重要数据支持。

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Fatigue Life of Indium Tin Oxide Films Deposited on Poly(ethylene terephthalate) Substrate in Cyclic Bending Tests - 2014年海峡两岸破坏科学与材料试验学术会议暨第十二届破坏科学研讨会、第十届全国MTS材料试验学术会议
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