该会议论文研究了在循环弯曲测试中,沉积在聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)基板上的氧化铟锡(ITO)薄膜的疲劳寿命。通过实验分析了ITO薄膜在反复弯曲下的性能退化情况,探讨了材料结构与机械应力之间的关系,为柔性电子器件的可靠性提供了重要数据支持。
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