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论文《基于边界扫描技术的通用测试系统设计》发表于第8届全国计算机支持的协同工作学术会议(CCSCW-2012)暨全国第23届计算机技术与应用学术会议(CACIS-2012)。该文探讨了如何利用边界扫描技术（JTAG）构建通用测试系统，提高电子设备的测试效率和可靠性。通过分析边界扫描技术的原理与应用，文章提出了一种灵活、可扩展的测试架构，适用于多种硬件平台，具有重要的工程应用价值。 文档为pdf格式，1.17MB，总共5页。
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