超声芯片无损检测系统的研发与应用 - 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会.pdf

论文《超声芯片无损检测系统的研发与应用》介绍了基于超声技术的无损检测系统在芯片检测中的应用。该系统能够有效提高芯片质量评估的准确性与效率，减少传统检测方法的局限性。研究针对芯片内部缺陷进行分析，提出了一种新型检测方案，并在实际应用中验证了其可行性与可靠性。

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2025-12-14 09:28 上传 超声芯片无损检测系统的研发与应用 - 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会.pdf

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