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论文《高性能DSP内核测试芯片的设计与验证》介绍了为评估和测试高性能数字信号处理器（DSP）内核而设计的测试芯片。文章详细描述了测试芯片的架构、功能模块及验证方法，强调了其在提高DSP性能和可靠性方面的重要性。通过实际测试与分析，验证了该芯片的有效性，为后续DSP设计与优化提供了可靠依据。 文档为pdf格式，1.03MB，总共3页。
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- 高性能DSP内核测试芯片的设计与验证 - 第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛.pdf ...
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