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论文《硅集成稳压器的总剂量效应研究》探讨了在辐射环境下硅基稳压器的可靠性问题。通过实验分析，研究了总剂量辐射对器件性能的影响，包括输出电压稳定性、电流特性及失效机制。该研究为提高电子设备在高辐射环境下的可靠性提供了理论依据和技术支持，对航天、核能等领域的应用具有重要意义。 ","role":"assistant文档为pdf格式，0.21MB，总共4页。
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- 硅集成稳压器的总剂量效应研究 - 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会.pdf ...
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