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高低温循环加速老化实验对LED器件可靠性的研究 - 2011全国新光源技术与市场研讨会.pdf

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论文《高低温循环加速老化实验对LED器件可靠性的研究》探讨了通过高低温循环实验评估LED器件可靠性的方法。研究分析了不同温度条件下LED的性能变化，验证了该方法在预测产品寿命和提高可靠性方面的有效性。该文为LED产品的质量控制和寿命测试提供了理论依据和技术支持，具有重要的应用价值。

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高低温循环加速老化实验对LED器件可靠性的研究 - 2011全国新光源技术与市场研讨会

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