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论文《检测老化的自适应可配置时序单元》介绍了用于检测电路老化的新方法。该研究提出了一种自适应可配置的时序单元结构，能够根据工作环境和老化程度动态调整性能参数。通过优化设计，提高了电路的可靠性与稳定性，适用于先进制程中的集成电路。该成果在第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议上发表，展示了在老化检测领域的创新思路。 文档为pdf格式，0.6MB，总共7页。
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- 检测老化的自适应可配置时序单元 - 第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议.pdf ...
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