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论文《基于自反馈和LFSR的时序电路自测试研究》探讨了利用自反馈机制与线性反馈移位寄存器（LFSR）实现时序电路自测试的方法。通过引入自反馈结构，提高了测试序列的覆盖率和故障检测能力。研究还结合LFSR生成高效测试模式，增强了电路的可测试性。该方法在降低测试成本和提高系统可靠性方面具有重要意义，适用于容错计算领域。 文档为pdf格式，0.46MB，总共8页。
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- 基于自反馈和LFSR的时序电路自测试研究 - 第十四届全国容错计算学术会议.pdf ...
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